Europene
Tarile de Jos – Microscoape electronice – Aanschaf Dual Beam Focussed Ion Beam en Scanning Elektronen Microscoop (FIB-SEM) voor het NFI
Detalii
Localizare: | Tarile de Jos |
Tip anunt: | anunt european |
Data aparitiei: | 13-02-2024 |
Pentru detalii va rugam sa va AUTENTIFICATI pe site.
Nu ai cont pe LicitatiaPublica.ro?
Creeaza ACUM un cont si ai acces la mii de licitatii publice.
Creeaza ACUM un cont si ai acces la mii de licitatii publice.