Atribuiri
Difractometru de raze X de inalta rezolutie si intensitate ridicata a fasciculului, dedicat pentru analiza si cartografierea structurii cristaline, texturii si macro-tensiunilor in filme subtiri si monocristale masive
Detalii
| Localizare: | Romania |
| Tip anunt: | anunt atribuire |
| Data aparitiei: | 24-11-2017 |
Pentru detalii va rugam sa va AUTENTIFICATI pe site.
Nu ai cont pe LicitatiaPublica.ro?
Creeaza ACUM un cont si ai acces la mii de licitatii publice.
Creeaza ACUM un cont si ai acces la mii de licitatii publice.